Sistema de eliminación de residuos de plasma ICP | Fari Plasma

Equipo de Plasma para Semiconductores

Sistema de Eliminación de Residuos por Plasma ICP

El sistema de eliminación de residuos por plasma PD-200 ICP integra una fuente de RF de 13.56 MHz (hasta 2 kW) para la eliminación controlada de fotorresina y residuos en procesos de semiconductores. Admite el manejo de múltiples obleas, control preciso de temperatura hasta 250°C y uniformidad ≤5% para un rendimiento de producción estable.

  • Plasma de RF de alta potencia a 13.56 MHz para incineración rápida
  • Control de temperatura de 50 a 250°C para procesos versátiles
  • Manejo de múltiples obleas para rendimiento de obleas de 2/4"

Especificaciones Técnicas

Modelo PD-200
Fuente de Plasma RF 13.56 MHz
Potencia de RF 2 kW
Tamaños de Oblea Aplicables 2", 4", 6", 8"
Manejo por Lotes Múltiples obleas (solo para obleas de 2" y 4")
Dimensiones (L×A×A) 673 × 1455 × 1695 mm
Configuración de la Cámara Cámara de transferencia + cámara de proceso
Control de Temperatura del Proceso 50–250 °C
Uniformidad ≤5% (borde excluido 10 mm, medición de 5 puntos)
Eliminación de PR por Plasma ≤90 °C; 50–100 nm/min; uniformidad ≤5% (prueba de 5 regiones)
Incineración a Alta Temperatura ≤250 °C; 3000–5000 nm/min; uniformidad ≤5% (prueba de 5 regiones)
Control del Sistema Sistema de control FR (sistema FR / FangRui)
Nivel de Automatización Manual + semiautomático
Enfriamiento de Electrodo / Enfriador Enfriamiento de electrodo FR-600A-H

Características Clave

  • Fuente de Plasma de RF de Alta Potencia

    El PD-200 cuenta con una fuente de plasma de RF de 13.56 MHz que proporciona hasta 2 kW de potencia, lo que permite una eliminación de residuos estable y controlable en condiciones de limpieza a baja temperatura y procesos a alta temperatura.

  • Control de Proceso de Amplio Rango de Temperatura

    El control de temperatura integrado abarca de 50 a 250 °C, lo que permite una amplia gama de procesos controlados por temperatura con un rendimiento estable y resultados repetibles en diferentes requisitos de producción.

  • Alto rendimiento de múltiples obleas

    Diseñado para el procesamiento de múltiples obleas (2" y 4"), el PD-200 aumenta el rendimiento para la producción de diámetro pequeño, manteniendo la uniformidad del proceso y una variación mínima de ciclo a ciclo.

  • Uniformidad y repetibilidad superiores

    La uniformidad del proceso se controla estrictamente a ≤5 % (medido en 5 puntos, excluyendo el borde), lo que garantiza una consistencia estable del proceso y una salida confiable en ciclos de producción repetidos.

  • Arquitectura de transferencia de doble cámara

    El sistema utiliza una cámara de transferencia más una cámara de proceso dedicada para aislar los pasos de manipulación y proceso, reduciendo los riesgos de contaminación y mejorando la integración del proceso para entornos de fabricación.

  • Interfaz de control fácil de usar

    Equipado con un sistema de control FR, el PD-200 proporciona operación intuitiva, gestión de recetas y flujos de trabajo semiautomatizados para agilizar las tareas del operador y minimizar los errores de configuración.

Proceso de limpieza por plasma

  • Generación de plasma

    El gas de proceso se energiza y se convierte en un plasma reactivo que contiene iones, electrones y radicales.

  • Interacción plasma-superficie

    Las especies de plasma energético interactúan con las moléculas de la superficie y los contaminantes bajo condiciones de vacío controladas.

  • Reacción química

    Los iones reactivos y radicales descomponen los residuos orgánicos y los contaminantes de la superficie mediante reacciones químicas controladas.

  • Volatilización

    Los productos de la reacción se convierten en compuestos volátiles y entran en la fase gaseosa.

  • Eliminación de la superficie

    Los subproductos gaseosos se desorben de la superficie y se evacuan, dejando una superficie de material limpia y activada.