El grabador de plasma por acoplamiento inductivo ICP integra fuentes de RF duales para proporcionar un grabado controlado y de alta uniformidad en materiales dieléctricos, metálicos y semiconductores compuestos. La configuración de doble cámara mejora el control de contaminación y admite una operación estable en entornos de fabricación de semiconductores.

| Tipo de Plasma | Plasma de Acoplamiento Inductivo (ICP) |
| Fuentes de RF | Generador de RF inductivo para plasma + generador de polarización de sustrato RF |
| Configuración de la Cámara | Cámara de prevacío y cámara de reacción para control de contaminación |
| Componentes Principales | Cámara de reacción, electrodos superior e inferior, fuentes de RF, sistema de vacío, control de gases, sistema de enfriamiento, control de helio trasero, software de control |
| Gases de Proceso | Suministro de gas configurable para químicas basadas en flúor, cloro y oxígeno |
| Sistema de Enfriamiento | Refrigeración de circuito cerrado para estabilidad térmica de la oblea y el sistema |
| Control de Helio Trasero | Relleno y control de He integrados para conducción térmica y sujeción |
| Control y Software | Gestión de recetas, monitoreo de procesos, interfaz de operador y soporte de automatización |
| Materiales Objetivo | Óxidos, nitruros, metales y semiconductores compuestos III-V (ej., SiO₂, Si₃N₄, Al, GaAs) |
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Rogatus ad ultimum admissusque in consistorium ambage nulla praegressa inconsiderate